主分類
A 農(nóng)業(yè)
B 作業(yè)；運輸
C 化學；冶金
D 紡織；造紙
E 固定建筑物
F 機械工程、照明、加熱
G 物理
H 電學
分類號 描述
G 物理
G01 測量；測試
G01Q 掃描探針技術或設備；掃描探針技術的應用，例如，掃描探針顯微術[SPM]
G01Q30-00 用于輔助或改進掃描探針技術或設備的輔助手段，例如顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-02 .非SPM的分析裝置，例如，SEM[掃描電子顯微鏡]，分光計或光學顯微鏡
G01Q30-04 .顯示或數(shù)據(jù)處理裝置
G01Q30-08 .建立或調(diào)節(jié)樣本室所需環(huán)境條件的手段
G01Q30-18 .保護或避免樣品室內(nèi)部受到外界環(huán)境狀況影響的手段，例如振動或電磁場
G01Q30-20 .樣品處理裝置或方法

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