主分類
A 農(nóng)業(yè)
B 作業(yè)；運(yùn)輸
C 化學(xué)；冶金
D 紡織；造紙
E 固定建筑物
F 機(jī)械工程、照明、加熱
G 物理
H 電學(xué)
分類號(hào) 描述
G 物理
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備；掃描探針技術(shù)的應(yīng)用，例如，掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q60-00 特殊類型的SPM [掃描探針顯微術(shù)]或其設(shè)備；其基本組成
G01Q60-02 .多個(gè)類型SPM，即包括兩種或更多種SPM技術(shù)
G01Q60-10 .STM [掃描隧道顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如STM探針
G01Q60-18 .SNOM [掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如，SNOM探針
G01Q60-24 .AFM [原子力顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如AFM探針
G01Q60-44 .SICM [掃描離子電導(dǎo)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SICM探針
G01Q60-46 .SCM [掃描電容顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SCM探針
G01Q60-50 .MFM [磁力顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如MFM探針
G01Q60-58 .SThM [掃描熱學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SThM探針
G01Q60-60 .SECM [掃描電化學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SECM探針

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