[发明专利]半导体装置、角度值校正电路及其方法有效
| 申请号： | 201811284229.7 | 申请日： | 2018-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN109768755B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 澁谷佳孝;木村隼人 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H02P23/14 | 分类号： | H02P23/14 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及半导体装置、角度值校正电路及其方法。为了在不增加电路尺寸的情况下校正旋转角度值，旋转周期测量单元测量旋转轴的旋转周期，其中通过使用输出与旋转轴的旋转角度相对应的信号的旋转变压器来检测旋转角度。旋转速度计算单元基于旋转周期计算旋转轴的旋转速度。加速度计算单元计算当旋转轴的给定旋转角度被分成2 |
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| 搜索关键词： | 半导体 装置 角度 校正 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种角度值校正电路，其包括：旋转周期测量单元，其测量旋转轴的旋转周期，其中，通过使用根据所述旋转轴的旋转角度而输出信号的旋转变压器来检测旋转角度；旋转速度计算单元，其基于所述旋转周期来计算所述旋转轴的旋转速度；加速度计算单元，其基于所述旋转速度，计算当所述旋转轴的给定旋转角度被划分为2n+1个间隔时每间隔的旋转速度的变化率，其中n是1或更大的整数；估计角度计算单元，其基于所述旋转速度以及所述旋转速度的所述变化率，在假设所述旋转轴执行匀加速运动的情况下，计算旋转角度估计值，所述旋转角度估计值是所述旋转轴的所述旋转角度的估计值；校正值计算单元，其基于从所述旋转变压器的所述输出信号转换的旋转角度值、以及基于所述旋转角度估计值，计算所述旋转角度值的校正值；以及校正值应用单元，其将所述校正值应用于所述旋转角度值，以生成经过校正的角度值。
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