[发明专利]高速缓存访问测量偏斜校正有效
| 申请号： | 202080073396.6 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN114631082B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 保罗·莫耶;约翰·凯利 | 申请（专利权）人： | 超威半导体公司 |
| 主分类号： | G06F12/126 | 分类号： | G06F12/126 |
| 代理公司： | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人： | 李献忠;张华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种处理器[101]，包括高速缓存[110]，所述高速缓存具有两个或更多个测试区域[115,116]和较大的非测试区域[118]。所述处理器还包括：高速缓存控制器[105]，所述高速缓存控制器对所述高速缓存的不同测试区域应用不同的高速缓存替换策略[111,112]；和性能监视器[104]，所述性能监视器测量所述不同测试区域的性能指标，诸如每个测试区域处的高速缓存命中率。基于所述性能指标，所述高速缓存控制器为所述非测试区域选择高速缓存替换策略，诸如选择与所述不同测试区域中具有较好性能指标的测试区域相关联的替换策略。响应于对所述不同测试区域的访问量的差值超过阈值，所述处理器对存储器访问测量进行偏斜校正。 | ||
| 搜索关键词： | 高速缓存 访问 测量 偏斜 校正 | ||
【主权项】：
暂无信息
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