[发明专利]存储器电容稳定性的测试方法、装置及设备在审
| 申请号： | 202210338451.0 | 申请日： | 2022-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN116935941A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 顾彦辉 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/54 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨俊辉;刘芳 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开提供一种存储器电容稳定性的测试方法、装置及设备。该方法中，测试装置向待测试的存储器的所有电容中写入逻辑电平，从存储器的所有电容中读取出逻辑电平。重复写入至读取的步骤，获得多组写入存储器的电容中的逻辑电平和读取出的逻辑电平，并传输至计算机设备。计算机设备根据多组写入待测试存储器的电容中的逻辑电平和读取出的逻辑电平，确定每次测试存储器中的电容失效数量，最后根据多组电容失效数量的变化，确定存储器电容的稳定性。通过写入和读取的电平的对比，不需要等待过长时间，在电路测试阶段就可以实现对电容的测试，快速验证电容的稳定性，测试流程简单且测试时间短，有效提高了对存储器电容的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 电容 稳定性 测试 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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