[发明专利]检测电路、方法及存储装置在审
| 申请号： | 202210342506.5 | 申请日： | 2022-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN116935944A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 高恩鹏 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 杨明莉 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开涉及一种检测电路、方法及存储装置，其中，模式寄存器数据处理模块用于响应模式寄存器写使能命令，向模式寄存器中预留模式寄存器写入第一预设数据；外部数据传输模块用于响应使能信号，根据第一预设数据按照预设编码规则经由内部数据传输模块向存储阵列写入初始数据，以及还用于响应读命令从存储阵列读出目标数据；比较模块用于根据比较第一预设数据与目标数据的比较结果判断是否存在数据传输异常，并将比较结果保存至模式寄存器中预设位置。本实施例能够智能检测出存储阵列在数据传输过程中是否存在异常，根据模式寄存器中存储的检测结果分析存储阵列中失效位元，从而提高半导体存储芯片的利用效率及工作可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 方法 存储 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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