[发明专利]舌体裂纹严重程度的评价方法、装置、介质和电子设备在审
| 申请号： | 202210355200.3 | 申请日： | 2022-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN116934661A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 胡广洋;杨浩;宋婷婷;余亢 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/90;G06T5/30;G06T5/00;G06N3/08;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及舌体特征识别技术领域，揭示了一种舌体裂纹严重程度的评价方法，所述方法包括：获取原始舌体图像，并对所述原始舌体图像进行预处理，得到目标舌体图像；通过预先训练的裂纹识别网络模型识别所述目标舌体图像中的舌体裂纹区域，得到裂纹区域图像；从所述裂纹区域图像中提取舌体的裂纹骨架数据，并基于所述裂纹骨架数据确定所述舌体裂纹在各个裂纹特征上的特征值；根据所述舌体裂纹在各个裂纹特征上的特征值，计算裂纹综合评价分数，所述裂纹综合评价分数用于表征所述舌体裂纹的严重程度。本申请提供的技术方案可以提高对舌体裂纹严重程度进行评价的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 裂纹 严重 程度 评价 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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