[发明专利]显示器批量老化的测试系统有效
| 申请号： | 202210512175.5 | 申请日： | 2022-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN114705942B | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张皓;彭永棒;马银芳;王鑫鑫 | 申请（专利权）人： | 无锡美科微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 | 代理人： | 唐维虎 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供的显示器批量老化的测试系统，涉及显示器测试技术领域。在显示器批量老化的测试系统中，控制单元通过地址位扩展单元与每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接；控制单元通过开关与复位单元与每个显示器老化测试单元中的的电流检测子单元连接；控制单元可以根据获取的每个显示器的老化电流通过控制数字电位器子单元调整显示器的老化电流，使显示器的老化电流维持在老化测试的要求范围内。相对于现有技术，可以在批量老化测试中根据每个显示器的不同测试情况进行相应的测试信号的调整，提高老化测试的自动化程度，并节省测试时间提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 显示器 批量 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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