[发明专利]位流配置检查方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202310761886.0 | 申请日： | 2023-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN116933725A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 陈逸韬;张勇;温长清 | 申请（专利权）人： | 深圳市紫光同创电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351 | 代理人： | 吕静 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种位流配置检查方法、装置及存储介质，涉及数字集成电路领域，该方法包括：基于非压缩位流生成解析位流数据文件，所述解析位流数据文件用于提供所述非压缩位流配置到至少一个目标模块的位流数据；使用压缩位流对芯片进行仿真，并生成仿真位线数据文件，所述仿真位线数据文件用于提供所述压缩位流被传输到所述目标模块的位线上的位线数据；将所述解析位流数据文件与所述仿真位线数据文件进行对比，得到所述目标模块的配置检查结果。因此，本申请分别使用压缩位流和非压缩位流通过不同方式获得数据的形式，规避了两种位流进行配置验证的重复性，同时在保证两种位流配置一致性的层面，提高了全芯片层级配置检查的完备性。 | ||
| 搜索关键词： | 流配 检查 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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