[发明专利]一种锥面斜孔加工基准找正及在机测量方法在审

专利信息
申请号: 202310885120.3 申请日: 2023-07-19
公开(公告)号: CN116922157A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 乔虎;李继航;胡思博;张力;贺茂聪;王岩松 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00
代理公司: 成都智涌知识产权代理事务所(普通合伙) 51313 代理人: 周正辉
地址: 710000*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种锥面斜孔加工基准找正及在机测量方法,涉及机械加工测量技术领域,包括:在工件斜孔的基准中心初建基准坐标系;进行锥面斜孔基准A的在机测量找正;进行锥面斜孔基准B的在机测量找正,更新基准坐标系的XY轴零点;根据基准坐标系,采用坐标平移和坐标系旋转的方式建立锥面斜孔加工坐标系;对锥面斜孔加工坐标系的A轴进行在机测量找正;在锥面斜孔加工坐标系中,先进行坐标系原点计算补偿,再旋转C轴;在锥面斜孔测量坐标系中,对锥面斜孔进行在机测量。本发明实现了锥面斜孔的加工基准找正,自动更新基准坐标系;消除了工件与机床转台之间的不同心误差,大大提高了测量精度和效率。
搜索关键词: 一种 锥面 加工 基准 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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