[发明专利]基于STM32的UFS老化测试方法、系统和计算机设备在审
| 申请号： | 202310917062.8 | 申请日： | 2023-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN116932300A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张松源;魏桂芳;麦浩铭 | 申请（专利权）人： | 深圳忆联信息系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F8/61;G06F8/654 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 丁宇龙 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种基于STM32的UFS老化测试方法、系统、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：将bootloader程序烧录进测试板，通过MFC程序更新应用程序并配置供电电压和板载信息；进入应用程序后，根据配置的供电电压调整分压器芯片的电压值；将板载信息和校验码通过GPIO模拟UART方式传输给UFS；使用GPIO模拟I2C方式读取检测分压器芯片设置的电压是否合理，并通过LED灯指示电压是否符合配置；UFS老化测试开始，待UFS老化测试结束后通过LED灯指示测试结果。本发明支持输入板载信息到UFS单体供后续性能提升和问题改进，保证UFS产品老化测试的可靠性与问题追溯能力。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 stm32 ufs 老化 测试 方法 系统 计算机 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳忆联信息系统有限公司，未经深圳忆联信息系统有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202310917062.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
