[发明专利]一种芯片的可靠性测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202310979636.4 | 申请日： | 2023-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN116934733A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 湖南恩智测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/0464;G06N3/08;G06V10/80;G06T5/40 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 王本晋 |
| 地址： | 410200 湖南省长沙市望城经济技术开发区马*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种芯片的可靠性测试方法及测试系统，本申请针对芯片的光学图像是光学显微镜采集芯片表层的放大图像这一特性，采用了单阶段检测网络，即YOLOv5网络作为检测网络，而且还对YOLOv5进行了改进，在YOLOv5网络中的最后一个SPP之后增加基于通道注意力机制和空间注意力机制的双重注意力机制，构建新的检测网络，然后通过芯片样本的光学图像对检测网络进行训练，最后得到检测器，利用检测器实现对待检测芯片的检测。本申请利用通道注意力机制和空间注意力机制增强YOLOv5网络对于浅层特征的语义信息和深层特征的分辨率，使得由改进的YOLOv5网络训练得到的检测器能够更加准确的识别出芯片表层的缺陷，进而提高芯片可靠性测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 可靠性 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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