[发明专利]一种可集成于光子芯片上的波长检测装置及测量方法在审
| 申请号： | 202311127190.9 | 申请日： | 2023-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN116938334A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 吴杨;李志伟;袁晓君 | 申请（专利权）人： | 北京弘光向尚科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/50;G02B6/12;G01J9/02;G01M11/02;H01S5/026 |
| 代理公司： | 北京云嘉湃富知识产权代理有限公司 11678 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 101300 北京市顺*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种可集成于光子芯片上的波长检测装置及测量方法，包括多组MZI，每组MZI包括两个非对称MZI，并为每个MZI配备一个光测量装置PD，用来测量MZI的输出光强；每组中的两个MZI具有相同的FSR，相位差设置为π/2。不同组MZI之间具有不同的FSR，将记录的不同组MZI配备的光测量装置PD值拟合成函数图像，根据所述函数图像的斜率区分不同光的波长。本发明的装置可放置于可调谐激光器的出口，通过小部分分光对其波长进行分辨，能够实现在整个波长范围内的高精度测量。本发明的装置在光通信、光传感和其他领域中具有重要应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 光子 芯片 波长 检测 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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